ICS 27.120 F 88 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T 5201—2012 代替GB/T5201—1994 带电粒子半导体探测器测量方法 Test procedures for semiconductor charged particle detectors (IEC 60333:1993 Nuclear instrumentation—Semiconductor charged particle detectors--Testprocedures,NEQ) 2012-06-29发布 2012-11-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T5201—2012 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本标准代替GB/T5201—1994《带电粒子半导体探测器测试方法》，本标准与GB/T5201—1994 （以下简称原标准）相比，主要技术变化如下： 增加了前言； 一增加了第2章“规范性引用文件”，其他章的编号依次后推； 一将原标准“术语、符号”改为第3章“术语和定义”，并完全引用GB/T4960.6一2008，不再另行 编写； 删除了原标准2.2“符号”部分，在文中用到符号的地方予以说明； 增加了4.1“测试的参考条件或标准试验条件”代替原标准3.1； 将原标准3.3和3.4合并为4.3；删除了原标准3.7； 5.1电压-电流特性（V-I特性）”增加了反向V-I特性测试； 将原标准4.3“噪声测量”前的悬置段改为5.3.1“测量方法和测量系统”，其他节编号依次 后推； 将原标准4.3.6“探测器噪声随放大器时间常数的变化”增加新内容后，改为5.3.7； -5.4.2“电荷收集时间”增加了对“快”、“慢”探测器的区分标准； 第7章“环境试验”完全引用GB/T10263一2006，不再另行编写。 本标准使用重新起草法参考IEC60333：1993《核仪器半导体带电粒子探测器试验程序》编制， 与IEC60333：1993的一致性程度为非等效。 本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会（SAC/TC30)提出并归口。 本标准起草单位：中核（北京）核仪器厂。 本标准起草人：李志勇、王军。