ICS 71. 040. 99 N 53 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T 20725—2006/ISO 17470:2004 波谱法定性点分析电子探针显微分析导则 Electron probe microanalysis guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry (ISO 17470:2004,Microbeam analysis—Electron probe microanalysis-Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry,IDT) 2006-12-25发布 2007-08-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管理委员会 GB/T20725-2006/ISO17470:2004 前本标准等同采用ISO17470：2004《波谱法定性点分析电子探针显微分析导则》（英文版）。本标准的附录A为资料性附录。本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出。本标准由全国微束分析标准化技术委员会归口。本标准起草单位：中国科学院上海硅酸盐研究所。本标准主要起草人：曾毅、李香庭。

GB-T 20725-2006 波谱法定性点分析电子探针显微分析导则

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