说明:最全专利文库
ICS点击此处添加ICS号 CCS点击此处添加CCS号 中华人民共和国通信行业标准 xxxx-xxxxx xx 安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法 Technical requirements and test methods for non-invasive attack mitigation of security chip (点击此处添加与国际标准一致性程度的标识) (报批稿) 在提交反馈意见时,请将您知道的相关专利连同支持性文件一并附上。 XXXX -XX- XX 发布 XXXX-XX-XX实施 发布 xx xxxxx-xxxx 目 次 興 言 2 1 范围 2规范性引用文件 3 3术语和定义 4缩略语 5概述, 5 6安全芯片非入侵式攻击缓解测试要求 6.1总体测试要求.. 6.2密码算法测试范围 7安全芯片非入侵式攻击测试准备 7.1安全芯片送检技术要求 7.2安全芯片送检文档要求 7.3文档审查要求. 7.4测试设备的性能要求与质量准则 8安全芯片非入侵式攻击测试方法与量化指标 8.1安全芯片非入侵式攻击测试框架 8.1.1总体测试流程 8.1.2单项测试流程 8.2计时分析测试方法与量化指标 8.2.1计时分析测试流程 8.2.2计时分析测试量化指标 10 8.3简单能量/电磁分析测试方法与量化指标 10 8.3.1简单能量/电磁分析测试流程, 8.3.2简单能量/电磁分析测试量化指标 11 8.4差分能量/电磁分析测试方法与量化指标 11 8.4.1差分能量/电磁分析测试流程. 11 8.4.2差分能量/电磁分析测试量化指标 12 9特殊情况说明 13 参考文献 14 XX XXXXX—XXXX 前言 起草。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任 本文件由中国通信标准化协会提出并归口。 本文件起草单位:北京理工大学、中国信息通信研究院、华为技术有限公司、北京数缘科技有限公 司、南京理工大学、北京智芯微电子科技有限公司、北京邮电大学、郑州信大捷安信息技术股份有限公 司、深圳市纽创信安科技开发有限公司、数据通信科学技术研究所、中国信息通信科技集团有限公司、 北京数字认证股份有限公司、北京中宇方通科技股份有限公司、鼎铉商用密码测评技术(深圳)有限公 司、中兴通讯股份有限公司、蚂蚁科技集团股份有限公司、新华三技术有限公司。 本文件主要起草人:王安、魏浣洺、周文权、丁瑶玲、孙绍飞、张靖奇、祝烈煌、袁琦、张宏星、 郑学欣、王剑、李强、徐秀、马聪、高思、张梦良、张小虎、张正、李正华、于鹏绅、姜海天、周永彬、 刘月君、高宜文、李延、胡晓波、郑世慧、马向亮、刘献伦、刘为华、王宗岳、王竹萍、梅秋丽、梁承 志、李广超、王新华、田东波、黄凯、胡之斐、周继华、郭智慧、李超、万晓兰、杨雪、刘铮、刘安女、 王子瑜、钱宇晗、杨易明。 2

.pdf文档 YD-T 6305-2024 安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法

文档预览
中文文档 15 页 50 下载 1000 浏览 0 评论 309 收藏 3.0分
温馨提示:本文档共15页,可预览 3 页,如浏览全部内容或当前文档出现乱码,可开通会员下载原始文档
YD-T 6305-2024 安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法 第 1 页 YD-T 6305-2024 安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法 第 2 页 YD-T 6305-2024 安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法 第 3 页
下载文档到电脑,方便使用
本文档由 人生无常 于 2025-03-30 12:48:30上传分享
站内资源均来自网友分享或网络收集整理,若无意中侵犯到您的权利,敬请联系我们微信(点击查看客服),我们将及时删除相关资源。