ICS 77. 040 YS CCS H 17 中华人民共和国有色金属行业标准 YS/T 1703—2024 晶片包装片盒表面颗粒的测试 液体颗粒计数法 Test method for surface particle of wafer box Liquid particle count method 2024-10-24 发布 2025-05-01 实施 发布 中华人民共和国工业和信息化部 YS/T 1703—2024 前言 本标准按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由全国有色金属标准化技术委员会（SAC/TC243）、全国半导体设备和材料标准化技术委员 会材料分技术委员会（SAC/TC203/SC2）提出并归口。 本文件起草单位：麦斯克电子材料股份有限公司、义柏科技（深圳）有限公司、上海合晶硅材料股 份有限公司、浙江海纳半导体股份有限公司、厦门万明电子有限公司、有研半导体硅材料股份公司、杭 州中欣晶圆半导体股份有限公司、阜宁协鑫光伏科技有限公司、南京国盛电子有限公司、江苏华兴激光 科技有限公司、江苏芯梦半导体设备有限公司 本文件主要起草人：熊诚雷、陈松平、胡晓亮、陈卫群、李战国、邵奇、胡平、尚海波、汪祖一、 潘金平、宁永铎、黄景明、周桂丽、宋晓飞、甘翊成、徐鹏飞、廖周芳。 YS/T 1703—2024 晶片包装片盒表面颗粒的测试 液体颗粒计数法 1范围 本文件规定了液体颗粒计数仪测试晶片包装片盒表面颗粒的方法。 本文件适用于直径100mm、125mm、150mm、200mm、300mm的硅抛光片、硅外延片、S0I片及其 他材质的半导体晶片（包括锗单晶片、砷化镓单晶片、磷化钢单晶片、碳化硅单晶片、蓝宝石单晶片等） 包装片盒颗粒洁净度的测试。 2规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件， 仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本 文件。 GB/T11446.1—2013电子级水 GB/T14264半导体材料术语 GB/T25915.1一2021洁净室及相关受控环境第1部分：按粒子浓度划分空气洁净度等级 3术语和定义 GB/T14264界定的以及下列术语和定义适用于本文件。 3. 1 片盒 waferbox 由盒底和盒盖组成的带有装载晶片片篮的封闭容器，用于贮存和运输晶片。 4原理 使用纯水对片盒盒盖内表面、片篮表面、盒底内表面进行淋洗，片盒表面的颗粒被收集到淋洗液中， 用液体颗粒计数仪采用光散射法原理测试淋洗液中的颗粒，得到测试片盒表面的颗粒含量。 5干扰因素 5.1测试环境洁净度等级会对测试结果产生干扰，测试环境空气洁净度等级等同或优于GB/T 25915.1-2021规定的IS05级。 5.2外界环境对包装片盒会产生污染，待测的包装片盒在测试前应使用包装袋密封。 5.3测试结果受测试仪器稳定性的影响，应定期对测试仪器进行校准。 5.4测试结果受纯水淋洗力度的影响，建议纯水淋洗管是内径为2.4mm的四氟软管，纯水淋洗流量设 为（135±5）mL/min。 6试剂或材料 1