YS-T 83-2020 光谱分析用钯基体

ICS 77. 150. 99 YS H 68 中华人民共和国有色金属行业标准 YS/T 83 --2020 代替YS/T83—2006 光谱分析用钯基体 Palladium matrix for spectral analysis 2020-12-09发布 2021-04-01实施中华人民共和国工业和信息化部发布 YS/T83—2020 前言本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。本标准代替YS/T83—2006《光谱分析用钯基体》。本标准与YS/T83-2006相比主要变化如下：需测定的杂质元素由18个增加到22个，新增加杂质元素为钛、钒、钻、镉（见表1和2006版表 1) ; SM-Pd99.995中新增加杂质元素钛、钒、钻、镉含量为0.0001%，金、锰杂质元素含量由 900%00000%00000%00000%200000 版表1）； -SM-Pd99.999中新增加杂质元素钛、钒、钻、镉杂质含量为0.00001%，铱杂质元素含量由 0.0001修改为0.00001%，锰、铬、锡、锌、铋、钉杂质元素含量由未做规定修改为0.00001%（见表1和2006版表1)；化学成分分析方法由原子发射光谱法修改为辉光放电质谱法（见4.1和2006版4.1）。本标准由全国有色金属标准化技术委员会（SAC/TC243)提出并归口。本标准起草单位：贵研资源（易门)有限公司、贵研铂业股份有限公司、昆明冶金研究院、江西省汉氏贵金属有限公司、有色金属技术经济研究院、金川集团股份有限公司。本标准主要起草人：刘文、刘伟、杨海岸、马媛、王淑英、昊喜龙、朱武勋、郁丰善、邱平、赵雨、林波、金云杰、王金营。本标准所代替标准的历次版本发布情况为： -—YB1707-1978; —YS/T83—1994;YS/T83-2006。

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本文档由人生无常于 2025-04-21 22:36:03上传分享